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一、光電測徑儀/CCD投影測徑儀
光電測徑儀/CCD投影測徑儀由于靠發(fā)光二極管經過投影成像運算的方法來測量，而且投影的平行光帶不太容易保證，再加上現在平行光管與CCD的技術的發(fā)展，現在很多企業(yè)開始采用CCD成像法測量直徑，其光源采用波長較長的紅外光，抗干擾較強，由于少了許多機械件，所以設備較穩(wěn)定可靠，但CCD成像受相素的制約，在精度上不太容易保證，特別是大直徑的物體測量，但又不能太細，太細會有掃描測徑儀相同的問題。
二、激光掃描測徑儀
利用衍射掃描原理測量細線的直徑，而且據說都是引進的德國的技術，此技術與前兩項剛好相反，只適用于測小直徑的細絲，而且越細越好，因為此技術是利用衍射原理，理論只有當波長與被測物相近或大于被測長物時衍射zui明顯。
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