高低溫試驗(yàn)箱產(chǎn)品具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。主要針對(duì)于電工，電子產(chǎn)品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環(huán)境下運(yùn)輸，使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)，改進(jìn)，鑒定及檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。高低溫試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)方法與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)可分為交變?cè)囼?yàn)、恒溫試驗(yàn)，兩種試驗(yàn)方法都是在高低溫試驗(yàn)箱的基礎(chǔ)上進(jìn)行升級(jí)拓展，交變?cè)囼?yàn)箱是指可以一次性將需要做的高溫、低溫以及所需做的溫度的時(shí)間設(shè)定在儀表參數(shù)內(nèi)，試驗(yàn)箱會(huì)按照設(shè)定走程序，高低溫試驗(yàn)箱就是在做一個(gè)固定的溫度，使試驗(yàn)效果更接近自然氣候，模擬出更惡劣的自然氣候，從而使被測(cè)樣品的可靠性更高。
一般標(biāo)準(zhǔn)要求指標(biāo)為≤2℃
溫度偏差
溫度穩(wěn)定后，在任意時(shí)間間隔內(nèi)，工作空間中心溫度的平均值和工作空間內(nèi)其它點(diǎn)的溫度平均值之差。雖然新舊標(biāo)準(zhǔn)對(duì)此指標(biāo)的定義和稱呼相同，但檢測(cè)已有所改變，新標(biāo)準(zhǔn)更實(shí)際，更苛刻一點(diǎn)，但考核時(shí)間短點(diǎn)。
一般標(biāo)準(zhǔn)要求指標(biāo)為±2℃，純高溫試驗(yàn)箱200℃以上可按實(shí)際使用溫度攝氏度(℃)±2%要求。
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