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近紅外光譜分析儀測試原理和產品優(yōu)勢詳解
近紅外光譜分析儀是一款高性能的光譜分析儀。主要針對通信波段進行精確測量，適用于光纖激光器，光纖傳感，空間光通信，以及光器件波長損耗特性的光譜測試。
近紅外光譜分析儀的原理：
近紅外光是介于可見光和中紅外光之間的電磁波，定義的近紅外光譜區(qū)的波長范圍，習慣上又將近紅外區(qū)劃分為近紅外短波和近紅外長波兩個區(qū)域。分析儀主要是由于分子振動的非諧振性使分子振動從基態(tài)向高能級躍遷時產生的，記錄的主要是含氫基團X-H振動的倍頻和合頻吸收。不同團或同一基團在不同化學環(huán)境中的近紅外吸收波長與強度都有明顯差別，NIR光譜具有豐富的結構和組成信息，非常適合用于碳氫有機物質的組成與性質測量。但在NIR區(qū)域，吸收強度弱，靈敏度相對較低，吸收帶較寬且重疊嚴重。
近紅外光譜分析儀優(yōu)勢：
1、全波長瞬態(tài)掃描，對生產線中快速移動的樣品實時測量。
2、高分辨率二極管陣列技術，可通過反射或透射方式實現(xiàn)樣品的快速連續(xù)分析。
3、內置儀器標準化，快速、簡捷地實現(xiàn)不同儀器間模型轉移。
4、分析速度快，一分鐘內同時檢測出多個指標。
5、針對不同樣品狀態(tài)選擇特定的樣品接口，實現(xiàn)準確快速的測定。
6、內置雙燈源，自動啟動備用燈源，儀器可連續(xù)不間斷監(jiān)測樣品，同時保證測量準確性。
7、完善的運行保護系統(tǒng)，較大限度減少儀器維護量。
8、可實現(xiàn)定性定量分析，更好地實現(xiàn)生產過程控制。
