您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
解說電子商品進行高溫老化實驗的意圖
解說電子商品進行高溫老化實驗的意圖
高溫老化實驗箱適用于航空航天商品、信息電子、儀器儀表、電工、電子商品、各種電子元器件在高溫環(huán)境下查驗其各項性性能指標。
那么電子商品為何要進行高溫老化實驗，其作用是什么？（下面小編就客戶實踐中的測驗來回答）
跟著電子技術(shù)的開展，電子商品的集成化程度越來越高，構(gòu)造越來越細微，工序不斷增加，制作技術(shù)越來越雜亂，這樣在制作進程中會產(chǎn)生一些埋伏缺點。電子商品在出產(chǎn)制作時,因設(shè)計不合理、原材料或技術(shù)辦法方面的原因?qū)е律唐返馁|(zhì)量問題歸納有兩類：
*類是商品的性能參數(shù)不合格，出產(chǎn)的商品不符合運用需求；
第二類是潛在的缺點，這類缺點不能用通常的測驗手法發(fā)現(xiàn)，而需要在運用進程中逐漸地被露出，如硅片外表污染、組織不穩(wěn)定、焊接空泛、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。
通常這種缺點需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運轉(zhuǎn)一千個小時擺布才干悉數(shù)被激活(露出)。明顯，對每只元器件測驗一千個小時是不現(xiàn)實的，所以需要對其施加熱應力和偏壓，例如進行高溫功率應力實驗，來加快這類缺點的提早露出。也即是給電子商品施加熱的、電的、機械的或多種綜合的外部應力，模仿嚴酷工作環(huán)境，消除加工應力和殘余溶劑等物質(zhì)，使埋伏故障提早呈現(xiàn)，趕快使商品經(jīng)過失效浴盆特性前期階段，進入高牢靠的穩(wěn)定期?！ ?/p>
經(jīng)過高溫老化可以使元器件的缺點、焊接和安裝等出產(chǎn)進程中存在的危險提早露出，老化后再進行電氣參數(shù)丈量，挑選除掉失效或變值的元器件，盡可能把商品的早期失效消除在正常運用之用，從面確保出廠的商品能經(jīng)得起時刻的考驗。