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            X熒光光譜儀分析原理及構(gòu)造的介紹

            閱讀:4230      發(fā)布時(shí)間:2013-10-28
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              X射線熒光(XRF)能用于測定周期表中多達(dá)83個(gè)元素所組成的各種形式和性質(zhì)的導(dǎo)體或非導(dǎo)體固體材料,其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質(zhì)物料等。凡是能和X射線發(fā)生激烈作用的樣品都不能分析,而要分析的樣品必須經(jīng)受在真空(4~5Pa)環(huán)境下測定,與其他分析技術(shù)相比,XRF具有分析速度快,穩(wěn)定性和精密度好以及動(dòng)態(tài)范圍寬等優(yōu)點(diǎn)。

              X-熒光光譜儀工作原理

               X-熒光光譜儀有兩種類型:一種是波長色散型(WDX),一種是能量色散型(EDX),我公司(INNOV-X中國服務(wù)中心)使用的是波長色散型(XRF分析儀),在WDX中,熒光光譜通過色散元件(如晶體)被分離成不連續(xù)的波段,然后用氣體正比計(jì)數(shù)器或閃爍計(jì)數(shù)器檢測,其主要組成是X光管、初級(jí)準(zhǔn)直器、晶體、次級(jí)準(zhǔn)直器和探測器,及輔助裝置如初級(jí)濾光片等。

              SDD探測器

               X熒光儀共有2個(gè)探測器,即流氣正比計(jì)數(shù)器和閃爍計(jì)數(shù)器,裝在探測器架上,可程控切換.

               掃描式X射線熒光儀安裝的是具有很大測定靈活性的測角儀,只要配備了必要的分析晶體就能按序分析周期表上多達(dá)83個(gè)元素。
               此外,測角儀還可以使用半定量分析元件如QuantAS,這些軟件能快速分析未知樣品,而不需要使用標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)做儀器校準(zhǔn)。而我公司ARL9800XP熒光光譜儀裝有一個(gè)測角儀(掃描道)和一個(gè)衍射道,如果需要還可以再裝14個(gè)固定道,它配有12位樣品交換器,可以設(shè)定自動(dòng)進(jìn)樣。

            X射線熒光光譜儀的基本原理

              被測試樣進(jìn)入光譜儀后,受到來自X光管發(fā)出的X射線光束激發(fā),產(chǎn)生X熒光,X射線熒光是指用X射線管或其它合適的輻射源照射物質(zhì)時(shí),使組成物質(zhì)的原子產(chǎn)生具有特征性的一種次級(jí)X射線,X光管發(fā)射的光譜是有靶材元素(Rh銠)的特征譜和連續(xù)譜(或稱白色輻射)所組成,來自樣品的輻射是由X光管光譜和樣品中各元素的特征譜所組成的混合光,這種混合光被引入測角儀所組成的色散系統(tǒng)分光,分光后所得的譜線和被測樣品中存在的元素有關(guān)。

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