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技術文章
數(shù)字電橋的性能特點
點擊次數(shù)：2278 發(fā)布時間：2015-10-30
性能特點
廣泛的測量對象
半導體元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)測量。
其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估。
介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評估。
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估。
半導體材料：半導體材料的介電常數(shù),導電率和C-V特性。
液晶材料：液晶單元的介電子常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。
多種元件、材料特性測量能力
多參數(shù)混合顯示功能
多參數(shù)同時顯示可滿足復雜元件各種分布參數(shù)的全面觀察與評估要求，而不必反復切換測量參數(shù)。
電感L和其直流電阻DCR可以同時測量顯示，顯著提高電感測量效率。
揭示電感器件的多種特性
使用內(nèi)部/外部直流偏置，結(jié)合各種掃描測試功能，可以地分析磁性材料、電感器件的性能。
通過偏置電流疊加測試功能，可以測量高頻電感器件、通訊變壓器，濾波器的小電流疊加性能。使用外部電流疊加裝置，可使偏置電流達40A以分析高功率、大電流電感器件。
的陶瓷電容測量
1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征，同時其容量、損耗施加之交流信號會產(chǎn)生明顯的變化。
儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準確度，六位分辨率和自動電平控制（ALC）功能等，中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準確的測試需要。
液晶單元的電容特性測量
電容－電壓（C－Vac)特性是評價液晶材料性能的主要方法，常規(guī)儀器測量液晶單元的C－Vac特性遇到一個問題是zui大測試電壓不夠。
使用擴展測量選件可提供分辨率為1%及zui高達20Vms的可編程測試信號電平，使它能在*條件下進行液晶材料的電容特性測量。
半導體材料和元件的測量
進行MOS型半導體制造工藝評價時，需要氧化層電容和襯底雜質(zhì)密度這些參數(shù)，這些可從C－Vdc特性的測量結(jié)果推導出來。
通過提供的直流源，結(jié)合各種掃描功能，可以方便地完成C-VDC特性的測量。
為了測試晶圓上的半導體器件，需要延伸電纜和探頭，儀器的1m/2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至zui小。
各種二極管、三極管、MOS管的分布電容也是本儀器的測試內(nèi)容。