太陽能電池I-V測試儀 參考價(jià)：面議
太陽能電池I-V測試儀能夠高精度高效率地測量太陽能I-V曲線和Suns-Voc數(shù)據(jù)，可高精度測量傳統(tǒng)太陽能電池和背接觸太陽能電池。
Suns-Voc后擴(kuò)散測試儀 參考價(jià)：面議
Suns-Voc后擴(kuò)散測試儀是Suns-Voc后擴(kuò)散過程控制的理想儀器，適合用于漿料燒結(jié)優(yōu)化和過程控制。
高分辨率晶圓厚度測試儀 參考價(jià)：面議
高分辨率晶圓厚度測試儀能夠高精度測量硅晶圓厚度和硅晶圓厚度變化,分辨率高達(dá)10nm,可滿足不同的晶圓厚度范圍。
微探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款微探針系統(tǒng)micro probe是為材料光學(xué)特性和電特性測試設(shè)計(jì)的納米級微納探針儀器,可以結(jié)合顯微鏡,光譜儀等儀器在各種環(huán)境條件下現(xiàn)場測試材料電學(xué)和光學(xué)特性...
納米操縱系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
納米操縱系統(tǒng)采用納米探針模塊nanoprober為顯微鏡或電鏡下微納操作提供納米級微操縱方案,非常適合SEM和各種電鏡樣品微操作使用
電鏡熒光屏 參考價(jià)：面議
這款電鏡熒光屏與電鏡光導(dǎo)聯(lián)合使用用于電鏡探測和電鏡成像，電鏡熒光片采用進(jìn)口閃爍單晶，具有熒光轉(zhuǎn)換效率高，壽命長的特點(diǎn)，是SEM掃描電鏡探測成像和TEM透射電鏡探...
磁場消除系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款磁場消除系統(tǒng)專業(yè)為掃描電鏡,聚焦離子束FIB消磁或電磁屏蔽設(shè)計(jì)的消磁儀器和磁場補(bǔ)償系統(tǒng),有效屏蔽消除磁場噪聲問題,為電子顯微鏡,電子和離子束實(shí)驗(yàn),磁共振成像...
范德瓦爾斯轉(zhuǎn)移臺 參考價(jià)：面議
范德瓦爾斯轉(zhuǎn)移臺VAN DER WAALS是為半導(dǎo)體芯片不同材料在位置的堆積過程研究設(shè)計(jì)的范德瓦爾斯位移臺。
C-V/I-V特性測試儀 參考價(jià)：面議
C-V/I-V特性測試儀是為半導(dǎo)體C-V特性分析測試和I-V特性測試分析設(shè)計(jì)的C-V/I-V測試系統(tǒng)。
納米掃描電鏡 參考價(jià)：面議
這款納米掃描電鏡SEM-20是臺式掃描電鏡,具有較低的掃描電鏡價(jià)格，非常適合納米科學(xué),材料科學(xué)電鏡應(yīng)用。
臺式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
這款臺式掃描電鏡SEM-30是納米掃描電鏡,具有較低的掃描電鏡價(jià)格，非常適合納米科學(xué),材料科學(xué)研究。
EDS掃描電鏡 參考價(jià)：面議
這款EDS掃描電鏡SEM-30AX是安裝有Thermal公司緊湊型EDS探測器的高性價(jià)比掃描電鏡,集成了掃描電鏡和能量色散光譜儀功能,具有較低的掃描電鏡價(jià)格，非...
晶圓灰化系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
晶圓灰化系統(tǒng)是為晶圓ashing設(shè)計(jì)的晶圓灰化機(jī),wafer ashing,廣泛用于本體抗蝕劑,LDI后抗蝕劑,聚合物去除。
多功能量子效率測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這套多功能太陽能電池量子效率測量系統(tǒng)是多用途量子效率測試系統(tǒng),一套量子效率測試系統(tǒng)可以測量：薄膜厚度, 折射率，透過率，光學(xué)常數(shù), 光譜響應(yīng)（Spectral ...
大型自動光學(xué)檢測系統(tǒng)AOI,晶圓光學(xué)jian測 參考價(jià)：面議
大型自動光學(xué)檢測系統(tǒng)AOI是為14''晶圓光學(xué)檢測設(shè)計(jì)的自動光學(xué)檢測機(jī)器,非常適合微電子與半導(dǎo)體檢測,自動光學(xué)檢測晶圓、芯片、引線鍵合等。
3D自動光學(xué)檢測系統(tǒng),AOI,SMT半導(dǎo)體 參考價(jià)：面議
這款3D自動光學(xué)檢測系統(tǒng)是為晶圓AOI自動光學(xué)檢測設(shè)計(jì)的全自動3D AOI三維自動光學(xué)檢測機(jī)器,可應(yīng)用于SMT生產(chǎn)線和半導(dǎo)體制造的第二道工序。
薄膜粘附力熱學(xué)測試儀 參考價(jià)：面議
這款薄膜粘附力熱學(xué)測試儀是為薄膜厚度測量,薄膜粘附力測量和薄膜熱導(dǎo)率測量設(shè)計(jì)的薄膜特性分析測試儀器。采用光聲顯微鏡和異步光學(xué)采樣ASOPS技術(shù)實(shí)現(xiàn)高精度薄膜力學(xué)...
高壓探針臂,高壓電流探針測試,probe arm 參考價(jià)：面議
這款高壓探針臂 probe arm也是大電流探針臂,可加持各種探針,滿足20KV和200A的高壓電流探針測試。
三軸探針臂,同軸探zhen臂,probe arm 參考價(jià)：面議
三軸探針臂,同軸探針臂是為探針測量專用三軸探針夾具,Triaxial probe arm.
晶圓分揀機(jī)器人,自動晶圓fen揀機(jī) 參考價(jià)：面議
晶圓分揀機(jī)器人是為大尺寸晶圓硅片分揀分選設(shè)計(jì)的自動晶圓分揀機(jī)系統(tǒng)，可分選高達(dá)12''尺寸晶圓。
帶式晶圓分選機(jī),硅片分選 參考價(jià)：面議
帶式晶圓分選機(jī)belt sorter是專業(yè)為晶圓硅片分選設(shè)計(jì)的皮帶式晶圓硅片分選機(jī),最大可適合8''晶圓分選分揀,非常適合晶圓硅片的生產(chǎn)測試。
自動光學(xué)檢測系統(tǒng)AOI,晶圓,引線鍵合檢測 參考價(jià)：面議
大型自動光學(xué)檢測系統(tǒng)AOI是為14''晶圓光學(xué)檢測設(shè)計(jì)的自動光學(xué)檢測機(jī)器,非常適合微電子與半導(dǎo)體檢測,自動光學(xué)檢測晶圓、芯片、引線鍵合等。
電路板自動光學(xué)檢測機(jī)AOI,PCBA光學(xué)jian測 參考價(jià)：面議
電路板自動光學(xué)檢測機(jī)AOI Systems是為電路板PCB和PCBA光學(xué)檢測設(shè)計(jì)的線上桌面型自動光學(xué)檢測機(jī)。
3D自動光學(xué)檢測系統(tǒng),AOI光學(xué)jian測機(jī) 參考價(jià)：面議
這款3D自動光學(xué)檢測系統(tǒng)是為晶圓AOI自動光學(xué)檢測設(shè)計(jì)的全自動3D AOI三維自動光學(xué)檢測機(jī)器,可應(yīng)用于SMT生產(chǎn)線和半導(dǎo)體制造的第二道工序。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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