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手持式合金光譜分析儀原理及優(yōu)勢
點擊次數：429 發(fā)布時間：2023-1-29
隨著金屬行業(yè)對化合金測量和應用技術的要求越來越高，選擇合適的儀器來測量金屬元素，以確保合金分析儀的使用壽命和可靠性已經成為一種常見的做法。手持式合金光譜分析儀采用XRF光譜分析技術，可用于確認物質中的特定元素，并對其進行量化。
原理:
每個原子都有自己固定數量的電子（負電粒子）運行在核子周圍的軌道上。并且電子的數量等于核子中的質子（正電粒子）的數量。從元素周期表中的原子數可以知道質子的數量。每個原子數對應固定的元素名稱，如鐵，元素名為Fe，原子數為26。能量色散X螢光和波長色散X螢光譜分析技術專門研究和應用了三個電子軌道，即k、l、m上的活動，其中k軌道接近核，每個電子軌道對應一個特定的能量層。
手持式合金光譜分析儀在XRF分析方法中，從X射線發(fā)射管中輻射的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量來撞擊和脫軌k層或L層的電子。此時，原子變成了不穩(wěn)定的離子。因為電子本能會尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會進入彌補內層的空間。當這些電子從外層進入內層時，它們會釋放能量，我們稱之為二次x光光子。
手持式合金光譜分析儀的整個過程稱為熒光輻射。每一種元素的二次射線都有自己的特點。x光光子熒光輻射產生的能量是由電子轉換過程中內外能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量約為6.4千電子伏。特定元素在一定時間內輻射的x光的數量或密度可以用來衡量這種元素的數量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布。
優(yōu)點：
1、薄窗X光管，指標達到先進水平；
2、數字多道技術，使測試更快，計數精度更高；
3、SDD硅漂移探測器具有良好的線性能量、能量分辨率和能譜特性，峰背比高，能有效提高元素的檢測極限；
以上就是上海澤權儀器設備有限公司對于手持式合金光譜分析儀原理及優(yōu)勢的見解，希望對您有所幫助。