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應用報告：X-Strata920提供鉻鍍層分析
日立分析儀器X-Strata920是一款基于高分辨率硅漂移探測器（SDD）的高性能、緊湊、堅固和可靠的質(zhì)量控制分析設(shè)備，提供簡單、快速的鍍層厚度和成分分析，符合檢測方法ISO 3497和ASTM B568。
X-Strata920使用能量色散X射線熒光 (EDXRF) 的無損分析技術(shù)來產(chǎn)生樣品的X射線光譜。該元素X射線光譜通過提供的基本參數(shù)法（FP）或經(jīng)驗系數(shù)法軟件來進行鍍層厚度或成分分析。X-Strata920配有一系列不同的樣品艙和底座來滿足不同形狀和尺寸的樣品。
所有樣品艙配置都是開槽式，便于快速加載扁平或薄的樣品，例如線路板和電線。激光聚焦確?？芍貜偷臉悠贩胖茫垣@得所有操作員的一致結(jié)果?？蛇x的程控樣品臺使自動測量多樣品或單個樣品上的多個特征變得容易，還可以執(zhí)行掃描以獲取凹凸表面的代表性分析。準直器可選配，以確保適用各種尺寸配件，提供佳性能。