比表面積及孔徑分析儀 JW-BK200C 參數(shù)

1主機具有以下功能：

1.1全孔吸（脫）附等溫線；微孔吸附等溫線；

1.2 BET比表面積（多點、單點）、Langmuir比表面積、t-plot法外表面積；

1.3 BJH介孔大孔孔容積及孔徑分布分析

1.4 HK法、SF法t-plot法微孔總孔體積、內表面積測定；MP法微孔分析

1.5 NLDFT法微孔及介孔連用分析軟件

1.6 吸附等溫線：具有定壓力和定點兩種測試方法，軟件有獨立的界面實時顯示每個

樣品的吸附過程,可實時了解樣品的吸附特性(投標時提供軟件功能截圖并加蓋制造商公章)

※1.7分析站各自獨立，可以同時測不同預處理條件的樣品。產品可以(分別)測不同吸附質。

2.儀器測試精度：

比表面重復精度≤± 1.0%； 孔徑重復偏差≤0.02nm 。

3.測試范圍：

0.0005(m2/g)--至無上限(比表面積)； 0.35nm-500nm 孔徑分析

※4.儀器分析站:2個獨立分析站，每一個分析站對應一個真空高硼硅玻璃內膽杜瓦瓶，共2套。

5.儀器主機硬件配置：

※ 5.1真空泵：進口機械真空泵+德國渦輪分子泵使得極限真空度高達10-8Pa；

※ 5.2傳感器:不少于8個壓力傳感器，分析站6個（1000 Torr、10 Torr、1Torr、

三種大小傳），飽和蒸汽壓2個1000 Torr，配置瑞士英?？祩鞲衅鳌?/span>

※5.3.P0站： 2個，實時檢測，提供檢測報告截圖證明

5.4熱自由空間溫度T的實時監(jiān)測與校正；

※5.5冷阱：2個，脫氣站和分析站各配置一個，有效的去除水分、有害物質等雜質；

※5.6真空塞：配備有真空塞，該真空塞阻隔樣品接觸空氣，對于可能含有溶劑或有害雜質的樣品，可以選用真空塞進行異位處理，避免原位處理樣品時儀器管路被污染或分子泵被損壞。同時由于異位處理樣品，節(jié)省原位預處理時間，可以使儀器用于測試，提高儀器的利用率。實現(xiàn)原位脫氣和異位脫氣的自主選擇。

6.脫氣系統(tǒng)：

※ 6.1 同位脫氣2個,避免二次污染；

6.2 異位脫氣2個，每個都有單獨的溫控系統(tǒng)，獨立控溫；

6.3脫氣溫度：0-400℃，精度±1℃，加熱包采用高質量隔熱棉內膽，外部軟包材料，密腳縫制，內置熱電偶，更易包裹樣品管，加熱溫度更均勻，測溫更精準。

三.功能及特點

※1.液氮面控制: 配備恒溫夾2個

2．防抽飛：防抽飛專有系統(tǒng)，易拆卸易清理；

※3、儀器具有樣品管真空密封塞以及真空密封系統(tǒng)；

4、儀器前面板上配置狀態(tài)顯示系統(tǒng)，顯示儀器的工作原理圖，閥位增加LED燈指示電

磁閥通斷，在實驗過程中可直觀判斷儀器的運行狀態(tài)

※5.冷自由空間控制技術：采用等溫夾套、填充棒、防揮發(fā)蓋、軟件自動補償?shù)染C合控

制技術，適合各種冷浴，包括液氮，液氬，冰水等；（提供等溫夾套技術證明）

※6.控制系統(tǒng)及溫度測量：必需全部采用低溫電磁閥自動控制，兼以外氣室內部空間溫

度實時準確測定，并在軟件控制界面實時顯示，且實時納入吸附量公式中；

※7.測試邏輯優(yōu)勢-數(shù)據(jù)控制方法：平衡壓力智能控制法，吸脫附孔徑分布分析分六段優(yōu)化設置，可設壓力間0.1-133 kPa，可靈活設置，全自動控制及調節(jié)，提高測試效率，微孔分析平均每樣8-12小時；

※8.HK-SF測試理論：對于HK-SF模型，有不同標準的吸附劑和吸附質參數(shù)供選擇。（貝士德只有有一種參數(shù)：H-K法(Original)微孔分析）。

※9.自動選點:BET比表面積自動選點功能，可以實現(xiàn)自動選取最佳P/P0范圍，獲得BET比表面積數(shù)據(jù)。

※10.數(shù)據(jù)處理:具有overlay功能，可以現(xiàn)不同測試數(shù)據(jù)的比對，便于及時快速進行數(shù)據(jù)分析。

1. 收納方面：提供了一個方便、安全且美觀的收納方式，使加熱包易于收納和使用，減少了損壞和安全風險。

2. 軟件兼容性：與其他品牌的DFT分析軟件兼容，能夠生成詳細的測試結果報告，確保無縫的數(shù)據(jù)交互和高效的分析流程。

3. 打印功能：添加吸附動力學打印功能

4. 精準性：軟件將根據(jù)用戶的投氣設置和P/P0max的設定綜合判斷，并始終優(yōu)先執(zhí)行較小的那個數(shù)值，以確保操作的精確性和高效性。

5. 精準控制：我們提供了開放微孔系統(tǒng)，可以靈活進行微孔的定量和定點投氣，滿足不同實驗需求的精準控制。

6. 數(shù)據(jù)導出：我們提供了吸附動力學數(shù)據(jù)導出功能，可以生成詳細的測試報告，報告中包含原始數(shù)據(jù)和圖表，方便用戶進行綜合分析和文檔記錄。

比表面積及孔徑分析 JW-BK200C 優(yōu)勢

該比表面積及孔徑分析儀（JW-BK200C）優(yōu)勢顯著：采用雙獨立分析站，支持同時處理不同樣品及吸附質，配備進口渦輪分子泵（極限真空10??Pa）和瑞士高精度傳感器（8個壓力傳感器），確保數(shù)據(jù)精準（比表面重復性≤±1%，孔徑偏差≤0.02nm）。專有真空塞設計結合雙冷阱系統(tǒng)，有效防止污染并保護分子泵，支持原位/異位脫氣靈活切換。軟件功能強大，具備實時吸附監(jiān)控、BET自動選點、NLDFT聯(lián)合分析及跨品牌DFT兼容性，支持吸附動力學數(shù)據(jù)導出與多數(shù)據(jù)對比。硬件集成恒溫夾套、防抽飛系統(tǒng)及低溫電磁閥控制，搭配智能平衡壓力邏輯和開放微孔定量投氣功能，提升測試效率（微孔分析8-12小時/樣）。測試范圍覆蓋0.0005m2/g至無上限比表面積及0.35nm-500nm全孔徑分析，滿足多樣研究需求。